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高压技术
四通道介损电桥测量装置
时间:2023-04-24

中试控股技术研究院鲁工为您讲解:四通道介损电桥测量装置

ZSDX-8000高压介质损耗测试装置(CVT变比)

操作简单,仪器配备了高端的全触摸液晶显示屏,超大全触摸操作界面,每过程都非常清晰明了,操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻
轻点击一下就能完成整个过程的测量,是目前非常理想的智能型介损测量设备。

参考标准:DL/T 962-2005,DL/T 474.3-2018

高压介质损耗测试装置(CVT变比)ZSDX-8000高压介质损耗测试装置是发电厂、变电站等现场或实验室测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。仪器为一体化
结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6 高稳定度标准电容器。测试高压源由仪器内部的逆变器产生,经变压器升压后用
于被试品测试。频率可变为50.0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45.0Hz\55.0Hz、60.0Hz、57.5Hz\62.5Hz、55.0Hz\65.0Hz,采用数字陷波技术,避开了工
频电场对测试的干扰,从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。同时适用于全部停电后用发电机供电检测的场合。该仪器配以绝缘油杯加温控装置可测试绝缘油介质损耗。

中试控股始于1986年 ▪ 30多年专业制造 ▪ 国家电网.南方电网.内蒙电网.入围合格供应商

技术参数
1 使用条件 -15℃∽40℃ RH<80%
2 抗干扰原理 变频法
3 电    源 AC 220V±10% 允许发电机
4 高压输出 0.5KV∽10KV 每隔0.1kV
精    度 2%
最大电流       200mA
容    量 2000VA
5 自激电源 AC 0V∽50V/15A 单  频   50.0HZ、60.0HZ 
自动双变频
45.0HZ/55.0HZ   47.5HZ/52.5HZ 
55.0HZ/65.0HZ   57.5HZ/62.5HZ
6 分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF
7 精    度 △tgδ:±(读数*1.0%+0.040%)
△C x :±(读数*1.0%+1.00PF)
8 测量范围 tgδ 无限制
C x 15pF < Cx < 300nF
10KV Cx < 60  nF
 5KV Cx < 150 nF
  1KV Cx < 300 nF
CVT测试 Cx < 300 nF
9 LCR测量范围 电感L>20H(2kV)             电阻R>10KΩ(2kV)
LCR测量精度 1% 角度分辨率 0.01
10 CVT变比范围 10∽10000
CVT变比精度 1% CVT变比分辨率 0.01
11 外型尺寸(主机(mm) 350(L)×270(W)×315(H)
外型尺寸(附件)(mm) 350(L)×270(W)×160(H)
12 存储器大小 200 组 支持U盘数据存储
13 重量(主机) 22.75Kg
重量(附件箱) 5.25Kg
参考接线
1、正接法 
(1)、内高压—内标准—正接法(常规接线)
(2)、外高压—内标准—正接法(外接高压输入小于12kV)
(3)、内高压—外标准—正接法(必须设置外接标准容量)                         
(4)、外高压—外标准—正接法(必须设置外标准容量)                                                                        
2、反接法
(1)、内高压—内标准—反接法(常规接线)                                                          
(2)、外高压—内标准—反接法(外接高压输入小于12kV                                                                            
(3)、内高压—外标准—反接法(必须设置外标准容量)
(4)、外高压—外标准—反接法(必须设置外标准容量)                                                                      
3、CVT测试
(1)、CVT分别测试(普通测试)
(2)、CVT同时测试(一次完成测试)
(3)、不拆高压引线测试CVT电容值和介损测量模式:CVT自激法。电压≤2kV 
(4)、反接屏蔽法测量CVT上端C0的电容值和介损测量模式:反接法。电压≤2kV
4、CVT变比测试                             
5、正反同测
(1)、两绕组变压器CHG+CHL测试接线
 
(2)、两绕组变压器CLG+CLH测试接线
 
(3)、三绕组变压器CHG+CHL测试接线(高压线屏蔽接T绕组)
 
(4)、三绕组变压器CLG+CLT测试接线(高压线屏蔽接HV绕组)
 
(5)、三绕组变压器CTG+CHT测试接线(高压线屏蔽接LV绕组)
?正接法
   1.HV用红色高压线连试品高压
   2.Cx用黑色测试线连试品低压
   3.黑色测试线的屏蔽层连试品E
?反接法
   1.试品高压接地
   2. HV用红色高压线连试品低压         
   3.红色高压线的屏蔽层连试品E
   4.Cx悬空
   5.桶体已为高压注意绝缘



中试控股电力讲解测量介质损耗角正切值tg 有何意义?

介质损耗角正切值又称介质损耗因数或简称介损。测量介质损耗因数是一项灵敏度很高的试验项目,它可以发现电力设备绝缘整体受潮、劣化变质以及小体积被试设备贯通和未贯通的局部缺陷。例如:某台变压器的套管,正常tg 值为0.5%,而当受潮后tg 值为3.5%,两个数据相差7倍;

而用测量绝缘电阻检测,受潮前后的数值相差不大。由于测量介质损耗因数对反映上述缺陷具有较高的灵敏度,所以在电工制造及电力设备交接和预防性试验中都得到了广泛的应用。中试控股电力讲解变压器、发电机、断路器等电气设备的介损测试《规程》都作了规定。

U盘导出,可在任意一台PC机上通过我公司专用软件,查看和管理数据
不拆除CVT高压引线的情况下正确测量CVT的介质损耗值和电容值
自激电源:AC 0V∽50V/15A 45HZ/55HZ 55HZ/65HZ 47.5HZ/52.5HZ 自动双变频


抗干扰变频介质损耗测试仪出现代码故障怎么解决?
抗干扰变频介质损耗测试仪采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器于一体,全自动智能化测量,能够在强干扰下稳定测量数据。并且测量结果由大屏幕液晶显示,自带微型打印机可打印输出。该仪器用于现场抗干扰介损测量或试验室精密介损测量。

    当抗干扰变频介质损耗测试仪自检出现错误时,建议您按如下步骤操作

    1.按住减小键不松手,打开电源模块,

    2.开机后大约2-3秒松开减小键,此时如果仪器一直处在开机界面,即一直显示仪器名称,不进入功能设置界面,表示此操作成功,如果仪器进入功能设置界面,请重复1.2步,

    3.按两下减小键,

    4.按一下启停建,仪器进入功能设置界面,界面显示:反接 内cn 变频 内un 就可以直接运行,空侧然后关机,如果这一步出现:内cn外un,按增大键或者减小键设置外un改为内un 5.关闭电源开关,重启仪器即可正常使用操作方式为:

    A.按住减小键不松手,打开电源模块,

    B.开机后大约2-3秒松开减小键,此时如果仪器一直处在开机界面,即一直显示仪器名称,不进入功能设置界面,表示此操作成功,如果仪器进入功能设置界面,请重复1.2步,

    C.按两下减小键,

    D.按一下启停建,仪器进入功能设置界面,界面显示:反接 内cn 变频 内un 就可以直接运行,空侧然后关机,如果这一步出现:内cn外un,按增大键或者减小键设置外un改为内un 5.关闭电源开关,重启仪器即可正常使用

在电压作用下电介质中产生的一切损耗称为介质损耗或介质损失。如果电介质损耗很大,会使电介质温度升高,促使材料发生老化(发脆、分解等),如果介质温度不断上升,甚至会把电介质熔化、烧焦,丧失绝缘能力,导致热击穿,因此电介质损耗的大小是衡量绝缘介质电性能的一项重要指标。
    在外加交流电压作用下,绝缘介质就流过电流,电流在介质中产生能量损耗,这种损耗成为介质损耗。介质损耗很大时,就会使介质温度升高而老化,甚至导致热击穿。因此,介质损耗的大小就反映了介质的优劣状况

加交流电压时的等值电路

 由相量图可知,介质损耗由IR&产生,夹角IR&大时, 就越大,故称δ为介质损失角,其正切值为
      tgδ=IR/IC=(U/R)/(U/ωC)=1/ωCR    (1-1)
    介质损耗 P=U2/R=U2ωCtgδ    (1-2)
    由上式可见,当U、ω、C一定时,P正比于tgδ,所以用tgδ来表征介质损耗。
    当绝缘受潮、老化时,有功电流IR将增大,tgδ也增大。通过测tgδ可以反映出绝缘的分布性缺陷。
    如果缺陷是集中性的,有时测tgδ就不灵敏,这是因为集中性缺陷为局部的,可以把介质分为缺陷和无缺陷的两部分;无缺陷的部分为R1和C1的并联;有缺陷部分为R2和C2的并联。当有缺陷部分占的比例很小时, 就很小,所以测整体的tgδ时就不易发现局部缺陷。

 

 

 

 

 

 

 

 

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