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中试控股技术研究院鲁工为您讲解:高压介质损耗因数tanδ测量装置(源头大企)
ZSDX-7000高压介质损耗测试装置(CVT)
多重保护安全可靠仪器具备输入电压波动、高压电流、输出短路、电源故障、过压、过流、温度等多重保护措施,保证了仪器安全、可靠。
仪器还具备设置接地检测功能,确保不接地设备不允许操作启动测试。
高压介质损耗测试装置(CVT):测试高压源由仪器内部的逆变器产生,经变压器升压后用于被试品测试。频率可变为50.0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45.0Hz\55.0Hz、60.0Hz、57.5Hz\62.5Hz、55.0Hz\65.0Hz,采用数字陷波技术,避开了工
参考接线
主要技术参数
数据管理
ZSDX-7000高压介质损耗测试装置是发电厂、变电站等现场或实验室测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。
仪器为一体化结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6 高稳定度标准电容器。
介质损耗因数偏大的原因及处理方法:
3)被试品Cx接地回路接触不良。当被试品Cx接地回路接触不良时,会使tanδ值偏大,此时应改善被试品接地回路接触情况。
参考标准:DL/T 962-2005,DL/T 474.3-2018
频电场对测试的干扰,从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。同时适用于全部停电后用发电机供电检测的场合。该仪器配以绝缘油杯加温控装置可测试绝缘油介质损耗。
1、正接(具体请参阅相关规程)
(1)、内高压—内标准—正接法(常规接线)
2、反接法
(1)、内高压—内标准—反接法(常规接线)
3、CVT测试
(1)、CVT分别测试(普通测试)
(2)、不拆高压引线测试CVT电容值和介损测量模式:CVT自激法。电压≤2kV
(3)、反接屏蔽法测量CVT上端C0的电容值和介损测量模式:反接法。电压≤2kV
?正接法
1.HV用红色高压线连试品高压
2.Cx用黑色测试线连试品低压
3.黑色测试线的屏蔽层连试品E
?反接法
1.试品高压接地
2. HV用红色高压线连试品低压
3.红色高压线的屏蔽层连试品E
4.Cx悬空
5.桶体已为高压注意绝缘
注 意:
? 所有附带仪器主机的接线原理图,连线主机细线为电缆屏蔽层,粗线为电缆芯线。
? 请使用出厂时配套的测试电缆。仪器测量电缆通用,但本仪器属于高精密测量仪器,测量时请尽量使用仪器出厂时附带的测试电缆,否则的话
可能因电缆自身的属性差异而影响测量结果的精度。
? 具体每个接线插座和端子使用何种电缆连接请参考 “面板说明”。
1使用条件 -15℃∽40℃ RH<80%
2抗干扰原理 变频法
3电 源 AC 220V±10% 允许发电机
4高压输出 0.5KV∽10KV 每隔0.1kV
精 度 2%
最大电流 200mA
容 量 2000VA
5 自激电源 AC 0V∽50V/15A 单 频 50.0HZ、60.0HZ
自动双变频
45.0HZ/55.0HZ 47.5HZ/52.5HZ
55.0HZ/65.0HZ 57.5HZ/62.5HZ
6分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF
7精 度 △tgδ:±(读数*1.0%+0.040%)
△C x :±(读数*1.0%+1.00PF)
8测量范围 tgδ 无限制
C x 15pF < Cx < 300nF
10KV Cx < 60 nF
5KV Cx < 150 nF
1KV Cx < 300 nF
CVT测试 Cx < 300 nF
9外型尺寸(主机(mm) 350(L)×270(W)×315(H)
外型尺寸(附件)(mm) 350(L)×270(W)×160(H)
10存储器大小 200 组 支持U盘数据存储
11重量(主机) 22.55Kg
重量(附件箱) 5.25Kg
在主菜单点击“数据管理”进入数据管理界面,点击“数据查询”进入数据存放菜单后,按上、下键移动光标至想要
查看的数据项目上,(仪器所保存的数据均是按照测量时间的先后所排列的,第000个数据即最新数据,第199个数据即最老数据。)再点击相应
的数据,进入数据打印项目,在此菜单里面可以按上,下键翻页至相应的数据序号上,可对数据进行打印操作。
点击“U盘备份”进入数据拷贝界面后,按照提示插入U盘,数据会自动拷贝存储到U盘,拷贝完成会提示用户拔出U盘
参数设置
时间设置:打开仪器后直接点击“参数设置”进入时间设置界面。进入时间菜单后,点击想要修改的时间数据项
目上,然后再按增加、减小键调整相应的“时” 、“分” 、“秒” ,最后点击保存修改时间设置,点击取消退出设置并返回主界面。 如果接
地检测设置“开”,仪器没有接地或者没有接好,液晶屏左下角会显示“接地错误…”,并且,光标会闪烁,测试的菜单就进不去,以免操作人
员启动测试,有触电危险。因此,一般不建议用户把接地检测设置为“关”,默认是打开检测的。
所有图片并非实物的全部描叙,请以实际仪器界面为主,仅做参考。
所有步骤在设置不当或想再次改变的情况下,均可按取消键返回上一步骤,如果按取消键不能实现返回。则可以直接按复位键退到主菜单重新开
始设置。
1瓷套表面受潮。瓷套表面电阻的大小直接影响tanδ的准确度,因为表面电阻与体积电阻并联在一起,当电桥采用反接法测量时,会使tanδ值偏大。
解决方法是:
1)用电吹风、远红外等烘燥表面,或在日光下暴晒。
2)用挥发性强的液体清洁。
3)用憎水性涂料涂于瓷套表面。
2)电场干扰。干扰电流Id在被试品电流Ix的右侧,使tanδ测量结果大于实际值,此时应采用试验电源移相法测量tanδ或使用带抗干扰功能的介损仪。
(1) 母线和变压器出口CVT。可采用正接线测量。由于该CVT与MOA或MOA、变压器相连,不拆高压引线,只拆除变压器中性点接地引线,MOA及变压器均可承受施加于CVT上的10KV交流试验电压。流经MOA及变压器的电流由试验电源提供,不流过电桥本体,故并联的变压器,MOA不会对测量产生影响,而强烈的干扰电流又大部分被试验变压器旁路掉,因此可得到满意的结果
(2) 线路CVT。由于该CVT不经隔离开关而直接与线路相连,故CVT上节不可采用正接线测量,否则试验电压将随线路送出,这是不允许的。实践表明,在感应电压不十分强烈的情况下,采用反接屏蔽法仍然取得满意的结果。
测量C1的介质损耗因素时,测量线Cx接在C1末端,由于C1首端及C4末端接地,则对于测点来讲,C1与C2、C3、C4的串联值是并联的关系。为避免C2、C3、C4对C1的测量结果造成影响,则应将QS1电桥的屏蔽极接于C2末端,这样C2两段电位基本相等,C2中无电流经过,C3、C4中的电流直接由电源通过屏蔽极提供,不流经电桥本体,因而不会对测量C1的介质损耗因素造成影响。
电容式电压互感器也称为CVT,因具有绝缘强度高、结构简单、重量轻、造价低,可兼作电力线载波通讯或线路高频保护的耦合电容等特点,被广泛应用于110kV及以上高压电力系统中。目前现场测试CVT的介质损耗因数和电容量普遍采用的是“自激法”,这种方法能准确判断设备的真实绝缘状况。
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