中试控股技术研究院鲁工为您讲解：自动介质损耗测量装置

ZSDX-7000高压介质损耗测试装置(CVT)

多重保护安全可靠仪器具备输入电压波动、高压电流、输出短路、电源故障、过压、过流、温度等多重保护措施，保证了仪器安全、可靠。

仪器还具备设置接地检测功能，确保不接地设备不允许操作启动测试。
参考标准：DL/T 962-2005，DL/T 474.3-2018

高压介质损耗测试装置(CVT)：测试高压源由仪器内部的逆变器产生，经变压器升压后用于被试品测试。频率可变为50.0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45.0Hz\55.0Hz、60.0Hz、57.5Hz\62.5Hz、55.0Hz\65.0Hz，采用数字陷波技术，避开了工
频电场对测试的干扰，从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。同时适用于全部停电后用发电机供电检测的场合。该仪器配以绝缘油杯加温控装置可测试绝缘油介质损耗。

工作原理
在交流电压作用下，电介质要消耗部分电能，这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时
，电介质中的电压和电流间成在相角差ψ，ψ的余角δ称为介质损耗角，δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参
数。仪器测量线路包括一标准回路（Cn）和一被试回路(Cx)，如图2—1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成，被试回路由
被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位
差，再由数字信号处理器运用数字化实时采集方法，通过矢量运算得出试品的电容值和介质损耗正切值。仪器内部已经采用了抗干扰措施，保证
在外电场干扰下准确测量。
主要技术参数
1使用条件 -15℃∽40℃ RH＜80%
2抗干扰原理 变频法
3电    源 AC 220V±10% 允许发电机
4高压输出 0.5KV∽10KV 每隔0.1kV
精    度 2%
最大电流       200mA
容    量 2000VA
5 自激电源 AC 0V∽50V/15A 单  频   50.0HZ、60.0HZ 
自动双变频
45.0HZ/55.0HZ   47.5HZ/52.5HZ 
55.0HZ/65.0HZ   57.5HZ/62.5HZ
6分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF
7精    度 △tgδ:±(读数*1.0%+0.040%)
△C x :±(读数*1.0%+1.00PF)
8测量范围 tgδ 无限制
C x 15pF ＜ Cx ＜ 300nF
10KV Cx ＜ 60  nF
 5KV Cx ＜ 150 nF
  1KV Cx ＜ 300 nF
CVT测试 Cx ＜ 300 nF
9外型尺寸（主机(mm) 350（L）×270（W）×315（H）
外型尺寸(附件)(mm) 350（L）×270（W）×160（H）
10存储器大小 200 组 支持U盘数据存储
11重量（主机） 22.55Kg
重量（附件箱） 5.25Kg

使用说明
主菜单
地线良好接入，打开电源开关，进入主菜单（如图5—1）；选择右边界面相应的测试选项进行测量。                  
※ 注： 仪器启动测试后，紧急情况若停止，只能按紧急停机，不要按复位。
一般测试
首先根据相应的接线提示接好仪器外部与被试品之间的连线，然后点击主界面“一般测试”选项，进入下一级一般测试菜单（如图5—2）。然后
可以点击“参数设置”进去设置菜单进行详细的测试参数设置。分别点击每个需要设置的项目，按“增加”“减小”或“选择”来
修改。修改完成后点击“保存”即可保存刚才所修改的参数并返回一般测 
试界面，点击“取消”则不保存本次修改并返回一般测试界面。
相关参数设置好了后长按“启动测试”单，进入测试菜单。测试过程中电压值一项是根据先前所选择的测试电压平滑上升至设置值后保持不变，
然后自动开始测试。开始测试后根据先前所选择的测试频率自动变频到各相应的频率进行测试，测试完成后自动显示测试结果(如图5—4)；测试
结果自动保存，可点击“打印”按钮打印本次测试结果。
注   意：每一种测试的具体参数设置和接线方法请查看第六章“参考接线” 。

介质损耗因数偏大的原因及处理方法：
1瓷套表面受潮。瓷套表面电阻的大小直接影响tanδ的准确度，因为表面电阻与体积电阻并联在一起，当电桥采用反接法测量时，会使tanδ值偏大。
解决方法是：
1）用电吹风、远红外等烘燥表面，或在日光下暴晒。
2）用挥发性强的液体清洁。
3）用憎水性涂料涂于瓷套表面。
2）电场干扰。干扰电流Id在被试品电流Ix的右侧，使tanδ测量结果大于实际值，此时应采用试验电源移相法测量tanδ或使用带抗干扰功能的介损仪。

3）被试品Cx接地回路接触不良。当被试品Cx接地回路接触不良时，会使tanδ值偏大，此时应改善被试品接地回路接触情况。