变频介质损耗测试仪是什么，是用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。变频介质损耗测试仪是什么可以满足哪些技术指标

一、介质损耗测试仪主要技术指标

准确度：           Cx:       ±（读数×1%+1pF）

tgδ:     ±（读数×1%+0.00040）

抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围：      内施高压：   3pF～60000pF/10kV     60pF～1μF/0.5kV

外施高压：   3pF～1.5μF/10kV          60pF～30μF/0.5kV

分辨率：                 最高0.001pF，4位有效数字

tgδ范围：   不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围：10μA～5A

内施高压：   设定电压范围：0.5～10kV

最大输出电流：200mA

升降压方式：     连续平滑调节

电压精度：   ±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率：     1V

试验频率：   45、50、55、60、65Hz单频

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频

频率精度：   ±0.01Hz

外施高压：   正接线时最大试验电流1A，工频或变频40-70Hz

反接线时最大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz

CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A

测量时间：   约40s，与测量方式有关

输入电源：   180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电

计算机接口：      标准RS232接口

打印机：           炜煌A7热敏微型打印机

环境温度：   -10℃～50℃

相对湿度：   <90%

二、介质损耗测试仪现场试验注意事项
如果使用中出现测试数据明显不合理，请从以下方面查找原因：
6.1搭钩接触不良
现场测量使用搭钩连接试品时，搭钩务必与试品接触良好，否则接触点放电会引起数据严重波动！尤其是引流线氧化层太厚，或风吹线摆动，易造成接触不良。
6.2接地接触不良
接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀，务必保证0电阻接地！
6.3直接测量CVT或末端屏蔽法测量电磁式PT
直接测量CVT的下节耦合电容会出现负介损，应改用自激法。
用末端屏蔽法测量电磁式PT时，由于受潮引起“T形网络干扰”出现负介损，吹干下面三裙瓷套和接线端子盘即可。也可改用常规法或末端加压法测量。
6.4空气湿度过大
空气湿度大使介损测量值异常增大（或减小甚至为负）且不稳定，必要时可加屏蔽环。因人为加屏蔽环改变了试品电场分布，此法有争议，可参照有关规程。
6.5发电机供电
发电机供电时输入频率不稳定，可采用定频50Hz模式工作。
6.6测试线
由于长期使用，易造成测试线隐性断路，或芯线和屏蔽短路，或插头接触不良，用户应经常维护测试线；
测试标准电容试品时，应使用全屏蔽插头连接，以消除附加杂散电容影响，否则不能反映出仪器精度；
自激法测量CVT时，非专用的高压线应吊起悬空，否则对地附加杂散电容和介损会引起测量误差。
6.7工作模式选择
接好线后请选择正确的测量工作模式（正、反和CVT），不可选错。特别是干扰环境下应选用变频抗干扰模式。
 
6.8试验方法影响
由于介损测量受试验方法影响较大，应区分是试验方法误差还是仪器误差。出现问题时可首先检查接线，然后检查是否为仪器故障。
6.9仪器故障
用万用表测量一下测试线是否断路，或芯线和屏蔽是否短路；输入电源220V过高或过低；接地是否良好。
用正、反接线测一下标准电容器或已知容量和介损的电容试品，如果结果正确，即可判断仪器没有问题；
拔下所有测试导线，进行空试升压，若不能正常工作，仪器可能有故障。
启动CVT测量后测量低压输出，应出现2～5V电压，否则仪器有故障。

三、介质损耗测试仪工作原理
启动测量后高压设定值送到变频电源，变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值，测量电路将实测高压送到变频电源，微调低压，实现准确高压输出。根据正/反接线和内/外标准电容的设置，测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程，测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰，分离出信号基波，对标准电流和试品电流进行矢量运算，幅值计算电容量，角差计算tgδ。反复进行多次测量，经过排序选择一个中间结果。测量结束，测量电路发出降压指令变频电源缓速降压到0。
CVT测量：CVT隔离开关断开，低压隔离开关接通输出低压。测量C2时，CVT倒线开关接通，C2接入试品通道，用C1作标准电容测量C2。