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中试控股详细讲解老旧试验站设计时间久远、设备使用时间长、故障率高,精确性、安全性、可靠性和可维护性比较差,具有非常明显的不足和缺陷:
一、电子设备由于其使用时间较长,故障率明显高于新品。
由于老化、机械振动、腐蚀等引起的故障。在电传动类的试验中振动是难免的,内部元件由于长时间的振动可能松动甚至脱落,脱落的元件在机壳内与其他元件搭接会造成短路,与其他元件碰撞,则会导致另外的元件受到损伤。另外,由于长时间受湿度、温度等外界环境因素的影响,电子元件还存在老化的问题。
老化的电阻,阻值可能变化,甚至短路或断路;电容、电感值产生变化,造成频率的变化或滤波等性能的降低;线路接头因腐蚀或有污垢而造成接触不良,如开关、触点上有积碳;晶体管参数的变化甚至会使电路出错。这些变化将会影响机件参数和性能,以至于使电子设备瘫痪。
中试控股详细讲解常见现象:外表不良好,开关松动,旋钮不起作用,外壳接缝处间隙过大,固定不良好,固定螺钉、插销锈蚀,强度降低,弹簧失效,减震垫老化等隐患,终引起故障的发生。
二、电子设备线路故障是难发现和预防的。
线路走向复杂,交联电子设备众多,线路长等原因,为预防和排故增加了一定的难度。
中试控股详细讲解其故障可分为馈线故障、导线故障和电缆接插件故障三类。线路故障在平时电子故障中不多,线路故障的产生原因一方面是电缆、馈线、接插件、导线等金属氧化、疲劳变形,绝缘层等非金属物质老化变质而产生的损耗性故障,另一方面是湿度、温度、腐蚀、振动等因素加速了线路老化。
从实际工作统计中发现,线路损耗性故障是比较突出的。如馈线内导线断丝,外导体脱焊,内外导体绝缘阻值下降,馈线插头接触不良;电子设备的电缆连接导线和元件接线产生故障;电缆中插头插座氧化、变形等造成的设备线路不能正常传送信号,提供电源等。
三、除去设备本身的故障隐患,本身设备的架构理念落后,在能源浪费方面、试验区域占用面积方面、人工效率和人力成本方面全面落后于现代化的试验站。
四、相对于旧试验站,新型的试验系统的功能优势。(详见下表)
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