根据试验所用电源不同有工频耐压、直流耐压、超低频（0.1Hz）耐压和冲击耐压试验等。

（1）工频试验方法，试验变压器容量及试验限值参见GB755—87和GB1032—85。

试验电压应用静电电压表、电压互感器或具有专用测量绕组的变压器测量，不能用低压侧读数以变比换算。

工频耐压试验有累积效应。每次试验后均会产生一定的细微劣化痕迹并使耐电压性能下降。此效应与外施电场强弱及作用时间有关。通常，一般电机按2U+1000V计算，试验1min应无闪络和击穿现象。绕组制造过程中的试验电压可适当提高；但重复试验时应降低20%。在生产线上应用1s或5s耐压，1s试验的电压应提高20%且用试棒直接施加，无升压过程。

（2）直流或超低频交流耐压可减少对绝缘影响，0.1Hz耐压试验可减少设备容量。直流耐压值应不超过工频耐压值的1.8倍。

（3）冲击耐压可检测电气间隙和爬电距离。常用1.2/50μs的标准雷电冲击波，峰值按4U+5000V计算，正负极性各施5次，间歇1s，且可反复施加。

影响绝缘电阻测量值的因素有温度、湿度、干燥和污染程度、测试电压与时间等。

绝缘电阻R随温度呈指数关系变化，通常受潮后绝缘电阻下降。为了保证运行和起动时的安全，起动前室温绝缘电阻应不低于（1+U_N/1000）MΩ。

测量绝缘电阻的同时，测量其极化指数或吸收比。清洁干燥的电机，其绕组极化指数PI（R_10min/R_1min）≥2.0；其吸收比K（R_60s/R_15s）≥1.3。

绝缘结构的tanδ主要取决于所用绝缘材料的tanδ，而其增量∆tanδ则反映绝缘结构整体性和绝缘处理工艺的优劣。热态tanδ及∆tanδ更为敏感。热态tanδ较大的绝缘结构在使用时会因发热而使tanδ更大，直至击穿。

测量tanδ可在绝缘已固化的单独成型线圈或线棒上进行，也可测量整台电机绕组的tanδ。只有测量嵌入槽内并固化后的整机tanδ才能反映电机实际的绝缘性能。

高压电机线圈及绕组的防晕效果，通常在暗室中在施加规定试验电压后用目力观察判断。

根据局部放电产生的电、光、热、噪声等现象，检测可分为非电检测法和电测量法两类。电测量法中有无线电干扰法（RIV法）和高频脉冲电流法（ERA法），典型的见典型ERA法仪器框图。

典型ERA法仪器框图

试验时试品应先停放一段时间然后加上比预计的局部放电起始电压低很多的电压，逐渐升至达到规定视在放电量时的电压，作为起始电压；再升压10%，然后降压至视在放电量的最小值的电压，作为放电熄灭电压。试验电压不得超过额定电压。

局部放电强度是从低于规定的试验电压开始，逐渐升至规定值并维持规定时间，再降至局部放电试验电压，再维持规定时间，最后测放电量。

电机工作时，流经电机绝缘至电机外壳（地）的电流称为泄漏电流，流经与电机易触及部分相接触的人体阻抗网络的电流称为接触电流，见图人体阻抗网络。接触电流大小将直接危及人身安全。人体感知阈值0.5mA，摆脱阈值约10mA，心室纤维颤动阈值为500mA。为保证可能与电机接触者的安全，电机热态接触电流应小于5mA。

人体阻抗网络

见图单相电机测量接线和图三相电机测量接线所示。

单相电机测量接线

三相电机测量接线

接触电流应在温升试验后测量。试验电压为105%最高额定电压。应在电机上易同时触及的金属零部件间、易触及金属部件与地之间测量。

对单相电机应将电机绕组两端依次转至电源不同极性，且分别在断开保护接地和中线时测取接触电流最大值；对三相电机应轮流断开任一相，并在断开保护接地时取接触电流最大值。测量时电机应与地绝缘。测量电极为试棒，当A端电极每次接入时，B端电极应先接地，再依次接至每个可触及零部件（或地）上测量。

为评价电机绝缘耐受电场和污染介质联合作用能力，且为设计提供电气间隙和爬电距离，应测量绝缘材料表面经受50滴的电解液而没有形成漏电起痕的最高电压值（相比漏电起痕指数CTI）和测定经受住50滴电解液没有形成漏电起痕的耐压值（耐漏电起痕指数PTI）。试验方法按GB4207—85的规定。其试验电极为铂，电极压力1±0.05N，电极距离4±0.1mm，试液为0.1%NH₄Cl（A液），滴液体积为，电导率为395±5Ω·cm，试验电压100～600V，每25V一档，试验判断电流0.5A时间2s，试验环温23±5℃。

CTI测定值与材料、工艺和表面状态有关，一般可分成四级（见表绝缘材料CT1分级）。见试验线路原理图所示。

绝缘材料CT1分级

试验线路原理图

1—开关 2—100～600V交流电源 3—延时过电流继电器 4—可调电阻 5—电极 6—试样

为限制因电气引燃造成电机内部着火的危险，并限制电机在外部起火时所产生的着火蔓延的危险程度和控制烟雾和毒气的排放量，必须对电机及其部件的着火危险性进行评价。

有关标准按起因不同规定了一系列试验方法：模拟灼热元件着火的“灼热丝法”；模拟故障产生的小火焰的“针焰法”；模拟接触过热着火的“不良接触法”；模拟周围发生早期着火的“本生灯型火焰法”。详见GB5169.4～7—85。